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接近检测设备和方法

发布时间:2025-02-26 12:46:06 人气:6

接近检测设备和方法

专利类型:

发明授权

申请(专利)号:

CN202010048926.3

申请日:

2020-01-16

授权公告号:

CN111521991B

授权公告日:

2025-02-25

申请人:

意法半导体(格勒诺布尔2)公司

地址:

法国格勒诺布尔

发明人:

P·梅洛特

专辑:

信息科技

专题:

电信技术

主分类号:

G01S7/48

分类号:

G01S7/48;G01S17/894

国省代码:

FR0ISGNB

页数:

14

代理机构:

北京市金杜律师事务所

代理人:

王茂华

优先权:

2019-01-17 FR 1900424

主权项:

1.一种接近检测设备,包括:一个或多个光电检测器,被配置为:接收从场景反射的一个或多个光学脉冲;以及基于所述一个或多个光学脉冲,输出一个或多个输出信号;读出电路,被配置为贯穿检测时段,以规则的间隔对所述一个或多个输出信号进行采样;以及脉冲传输电路,被配置为:将具有第一脉冲持续时间的第一光学脉冲传输到所述场景中;以及将具有第二脉冲持续时间的第二光学脉冲传输到所述场景中,所述第二脉冲持续时间比所述第一脉冲持续时间长至少50%,其中所述脉冲传输电路被配置为在所述检测时段期间,至少部分地传输所述第一光学脉冲和所述第二光学脉冲。

摘要:

本公开的实施例涉及接近检测设备和方法。本公开涉及接近检测设备。接近检测设备包括一个或多个光电检测器以及读出电路,读出电路被配置为贯穿检测时段以规则的间隔对来自一个或多个光电检测器的一个或多个输出信号进行采样。接近检测设备包括脉冲传输电路,脉冲传输电路被配置为将具有第一脉冲持续时间的第一光学脉冲和具有第二脉冲持续时间的第二光学脉冲传输到场景中,第二脉冲持续时间比第一脉冲持续时间长至少百分之五十。

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